M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀 產品簡介：

Bruker M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀可用于對大塊、不均勻、不規則，甚至小件的樣品和包裹物進行高靈敏度、非破壞性的元素分析（Na11-U92），是研究樣品成分分析、成分分布規律的新利器，可以給學者從宏觀、微觀、微宏觀結合等多個角度提供新的研究思路。

·  采用多導毛細管聚焦鏡，可將激發光聚焦到非常小的區域 （<20μm），以獲得良好的空間分辨率，進行元素成像分析

·  渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數可變的攝像系統獲得的樣品影像。

·  通過可選的雙X射線光管和多6個濾光片進行靈活的激發。

·  使用XFlash®探測器高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步提高測量速度。

·  基于無標樣分析法準確定量分析塊狀樣品，準確分析多層膜樣品。

·  具有便捷進樣功能的可抽真空的樣品室

·  輸出高精度的元素分布圖，分辨率可高達4000萬像素，7168*5582  pixels。

微區 M4  Tornado 微區X射線熒光光譜儀具有廣泛的應用環境，目前已經在植物環境、科技考古、地球科學、材料科學、生物工程、刑偵等領域有著諸多的應用案例。該設備在國內外有專業的應用開發人員，專注于新應用領域的開發。